OIP200B光隔離探頭 OIP100B

OIP 系列光隔離探頭采用 SigOFIT ™光隔離技術，精確解決存在大共模電壓情況下的高帶寬以及高電壓差分信號問題，在其帶寬范圍內(nèi)提供YI流的共模抑制性能， 為您提供最JIA的隔離測量解決方案。

特點：

●100MHz/ 200MHz帶寬

●高達 160dB 的共模抑制比

●1.5% 測量精度

●1mVrms 左右的噪聲

●采用尺寸小，連接穩(wěn)定安全的 SMA 接頭

●差分電壓可達 ±1250Vpk

●共模隔離電壓高達 50kVpk

應用場景：

●氮化鎵、碳化硅、IGBT 半 / 全橋設備的設計與分析

●逆變器、UPS 及開關電源的測試

●高壓高帶寬測試應用的安全隔離測試

●寬電壓、寬帶測試應用

●各種浮地測試

高精度測量的結果：

OIP系列光隔離探頭可以提供 1.5% 的高測量精度，ZUI大程度保證了信號的完整性，是您最JIA的測量方案選擇。

高可靠的連接方式：

OIP系列光隔離探頭采用 SMA 高質量微波高頻連接器，其尺寸小，連接穩(wěn)定，可以ZUI大程度上保證連接的可靠性。

氮化鎵與碳化硅測試的選擇：

OIP系列光隔離探頭通過光學隔離幾乎消除了共模干擾，憑借其高共模抑制比、短測量環(huán)路、高共模&范圍低衰減倍數(shù)，相比于使用差分探頭，可以大大減少測量時產(chǎn)生的震蕩和噪聲。

極其便捷與輕松的測量體驗：

OIP系列光隔離探頭光-電 還原器采用示波器 USB 端口供電，電 - 光轉換器采用自身電池供電，可以持續(xù)工作 10 小時以上，無額外適配器，配合麥科信 TO 系列平板示波器，可以獲得極其便捷與輕松的測量體驗。

最準確的 GaN 和 SiC 表征

的信號完整性

● 1.5% 測量精度

● 高達 160dB 的共模抑制比

● 1mVrms 左右的噪聲

解決傳統(tǒng)差分探頭測量時的困擾

● 更小的震蕩與噪聲

● 高共模電壓時，依然可以通過小衰減比的探頭

前端提高測量的精度

高可靠性連接

● 采用 SMA 連接，尺寸小，連接穩(wěn)定

● 可保證最小測量環(huán)路

● 通過不同衰減比的衰減器，可測差分電壓

可達 ±1250Vpk

OIP200B光隔離探頭 OIP100B